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影响光谱仪光线强度的因素有哪些?

发布时间:2022-04-08      点击次数:469
  光谱仪的定量分析是基于荧光X射线的强度。影响仪器射线强度的因素会影响分析的准确性。以下是两个主要因素:
  1、矩阵效应
  基质效应包括吸收效应和增强效应。吸收效应包括基板对入射X射线和荧光X射线的吸收。当样品受到辐射激发时,它不仅作用于样品表面,而且以相应的厚度渗入样品中。样品中的分析元素形成的荧光X射线只能通过相应厚度的样品发射。在穿透过程中,由于基体元素的吸收,这两种X射线的强度会减弱,X射线的减弱会影响分析元素的激发效率。
  如果光谱仪入射X射线激发基体元素形成波长略短于分析元素吸收边的荧光X射线,会使分析元素形成二次荧光X射线,进而增强强度分析元素的荧光X射线,是基体的增强作用。如果吸收效应占优势,则分析结果略低;如果增强效果占优势,则分析结果较高。

 

光谱仪
 

 

  2、效果参差不齐
  不均匀效应是指样品粒径不均匀性和样品表面光滑度对荧光X射线强度的影响。对于粉末样品,大颗粒的吸收强,小颗粒的吸收弱。因此,要求粒径尽可能小,以减少对X射线的吸收。测量短波X射线时,粒径应大于250目,测量波长大于0.2nm的长波X射线时,粒径应大于400目。
  固体样品必须抛光,粉末样品必须压实以使表面光滑。粗糙的表面会显着降低光谱仪荧光X射线的强度。测量短波X射线时,光洁度约为1005m,测量长波X射线时,光洁度为20-50mm。
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